安捷倫(Agilent)宣布力晶12M新廠採用Agilent 4070系列之高精密參數測試系統，以執行產品之晶圓參數測試Wafer Acceptance Test(WAT)。
安捷倫(Agilent)宣布力晶12M新廠採用Agilent 4070系列之高精密參數測試系統，以執行產品之晶圓參數測試Wafer Acceptance Test(WAT)。
安捷倫之Agilent 4070系列提供卓越品質、高穩定，及高輸出(Throughput)之完整參數測試解決方案，能完全符合業界對於產品之嚴格參數測試需求。Agilent 4070系列的高準確及穩定性可以支援各不同階段的製程技術，並具備擴充彈性。Agilent 4070系列不僅可以解決業界發展90奈米晶圓製程的量產測試需求，也可以支援下一世代製程的參數測試需求。
Agilent 4070系列是WAT測試平台，其穩定、高準確的性能表現不僅為世界各大半導體廠所採用，並持續榮獲VLSI Research大獎之肯定。目前4070系列在全球各地已安裝超過1,300套，市占率高。Agilent 4070系列是專為晶圓參數測試之嚴苛挑戰而設計，具有可擴充之彈性架構，所配置的機種及選項可支援各階段之製程技術。
力晶網址：www.psc.com.tw、安捷倫網址：www.agilent.com.tw