吉時利(Keithley)發表ACS Basic Edition及支援元件測試應用的特性分析和曲線掃描軟體。最新版ACS Basic Edition軟體進一步壯大吉時利的自動化特性分析套件(ACS)陣容，搭配業完備的電源量測單元(SMU)，也就是其SourceMeter系列產品，可取代老舊曲線掃描儀器，透過單一解決方案執行基本曲線掃描及參數測試，並將成本壓至極低水準。
吉時利(Keithley)發表ACS Basic Edition及支援元件測試應用的特性分析和曲線掃描軟體。最新版ACS Basic Edition軟體進一步壯大吉時利的自動化特性分析套件(ACS)陣容，搭配業完備的電源量測單元(SMU)，也就是其SourceMeter系列產品，可取代老舊曲線掃描儀器，透過單一解決方案執行基本曲線掃描及參數測試，並將成本壓至極低水準。
吉時利於2007年首推ACS整合測試系統，提供獨特量測功能及強大靈活的自動導向軟體，能滿足元件、晶圓或晶舟層級的半導體特性分析需求。初期ACS系統是針對大型晶圓探針台，以及規模較大的晶圓測試應用所設計；而ACS Basic Edition鎖定桌上型的元件測試應用，這類應用雖不需整合式探針設備，但仍需要ACS平台提供的量測與軟體自動化功能。
ACS Basic Edition提供一套龐大資料庫，內含許多預設元件測試程序，可縮短啟動時間、減少程式碼的撰寫且簡化測試流程。ACS Basic Edition結合簡單易用的曲線掃描儀及參數分析儀分析功能，任何人都可透過ACS Basic Edition輕鬆對一個半導體元件進行測試，並立即進行特性分析曲線與參考曲線比較。
吉時利網址：www.keithley.com.tw