無線測試系統 PXI平台 物聯網

NI無線測試系統降低生產測試成本

2015-08-12
國家儀器(NI)推出無線測試系統(WTS),可大幅降低大量無線製造測試成本,這款具有最佳量測速度與平行測試功能系統,企業即可有效降低測試成本,將生產效率提升好幾倍。
國家儀器(NI)推出無線測試系統(WTS),可大幅降低大量無線製造測試成本,這款具有最佳量測速度與平行測試功能系統,企業即可有效降低測試成本,將生產效率提升好幾倍。

Frost & Sullivan的量測和儀器專案經理Olga Shapiro表示,物聯網(IoT)等大趨勢將驅動更多的設備納入射頻(RF)和感測器功能。WTS採用PXI平台,該公司預期這個系統將對物聯網產生重大影響。

WTS結合最新PXI硬體,針對多種標準、多種DUT和多種連接埠測試需求提供單一平台。搭配靈活測試序列軟體一起使用,即可在平行測試多個裝置時,大幅提升儀器使用效率。WTS具有立即可用測試序列,適合搭載高通(Qualcomm)與博通(Broadcom)晶片組裝置,此外還配備整合式DUT與遠端自動化控制功能,可輕鬆整合至生產線。

HARMAN/Becker汽車系統公司的Markus Krauss表示,該公司使用NI無線測試系統,即可透過同個設備測試多種無線技術,包括藍牙、Wi-Fi、全球定位系統(GPS)和無線行動技術,WTS和NOFFZ的RF測試工程專業大幅縮短測試時間,加快測試系統啟用速度。

國家儀器網址:www.ni.com

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