EEPROM 行動電子 SPI

愛德萬測試發表最新記憶體測試系統

2016-09-07
愛德萬測試(Advantest)發表的記憶體測試系統T5830,是T5800系列旗下最新產品,能為行動電子裝置所採用的各式快閃記憶體,提供最佳化的測試能力。
愛德萬測試(Advantest)發表的記憶體測試系統T5830,是T5800系列旗下最新產品,能為行動電子裝置所採用的各式快閃記憶體,提供最佳化的測試能力。

愛德萬測試執行董事山田弘益表示,該公司最新的記憶體測試機,具備了自動測試設備(ATE)的完整功能及可擴充性能,將可滿足中國、台灣等地不斷激增的物聯網(IoT)與智慧卡市場需求。

T5830測試機擁有極高的靈活度,功能一應俱全,不論是針對晶圓測試,或是價格敏感高的快閃記憶體最終測試,T5830都能一次滿足。T5830的可擴展性、內建大電流可編程電源(PPS),能為各種不同腳位的產品提供靈活、且更經濟的效能表現。T5830系統採用了愛德萬測試創新的Tester-per-Site™設計,因此每個Site都能獨立運作,有助加快測試時間,降低整體測試成本。

T5830的運轉頻率為400MHz,資料傳輸速度最快可達800Mbit/s。此外,在4個數位腳位的配置下,T5830具備同時測試2,304個待測物(DUT)的能力。

有了這些功能,愛德萬測試的最新測試機可廣泛應用於各種裝置,包括使用SPI介面協定的NOR和NAND快閃記憶體、智慧卡和SIM記憶體等低腳位快閃裝置、EEPROM記憶體,與其他內嵌快閃裝置。

愛德萬測試網址:www.advantest.com

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