TI發表高溫非揮發性快閃記憶體裝置

2012-11-28
德州儀器(TI)推出滿足惡劣環境的高溫非揮發性快閃記憶體裝置--SM28VLT32-HT,具有4MB工作容量,毋須耗費昂貴成本再對工業級元件進行產品資料表規格以外的篩選(Up-screening)與認證測試。該裝置不但可在極端溫度下實現資料記錄,還可確保在如油氣探勘、重工業以及航空等惡劣環境應用中至少工作1,000小時。
德州儀器(TI)推出滿足惡劣環境的高溫非揮發性快閃記憶體裝置--SM28VLT32-HT,具有4MB工作容量,毋須耗費昂貴成本再對工業級元件進行產品資料表規格以外的篩選(Up-screening)與認證測試。該裝置不但可在極端溫度下實現資料記錄,還可確保在如油氣探勘、重工業以及航空等惡劣環境應用中至少工作1,000小時。

SM28VLT32-HT主要特性與優勢簡述如下:SM28VLT32-HT具最寬泛溫度範圍,是唯一可在-55度C~+210度C溫度範圍內工作的非揮發性快閃記憶體裝置;SM28VLT32-HT具高可靠度,經過測試可在裝置整體工作壽命內,於整個溫度範圍下實現穩健的讀/寫操作;SM28VLT32-HT無需外部組件,可幫助製造商快速安全地開發各種可符合惡劣環境的應用,將開發、測試與認證時間縮短6個月; SM28VLT32-HT可採用陶瓷扁平封裝(Ceramic Flat Pack)或已知良品晶圓(Known Good Die, KGD)封裝,允許在多晶片模組中整合小型封裝,充分滿足電路板空間有限的系統需求。

德州儀器網址:www.ti.com

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