半導體測試設備廠商愛德萬測試將於1月23日至25日，於南韓首爾市國際會展中心所舉辦的SEMICON國際半導體展上，展示該公司多種先進的IC測試及晶圓檢測解決方案。
愛德萬測試將於C 展場(Hall C)第#C510號攤位上，展示該公司目前所發表的最新測試系統與各項進階功能，包括MPT3000平台的最新升級版，也是業界首創、能夠全面整合開發、除錯與量產PCIe Gen 4固態硬碟(SSD)的解決方案；可靈活運用的T5851，則是符合下一代移動協議NAND，包括UFS3.x、以及PCIe Gen4 BGA的記憶體測試器；而 T5503HS2 系統，是唯一能夠評估新一代高速LPDDR5及DDR5記憶體進階功能的測試機台。另外，還有HiFix 高速記憶體測試解決方案，能夠以超過16 Gbps的速度，支援先進設備測試; 以及適合奈米技術應用的量測解決方案，包括用於光罩和晶圓的愛德萬E3650、E5610和E3310掃描式電子顯微鏡(SEM)，以及適用於1X-nm 製程的F7000電子束光刻系統等等。
另外，攤位上也將設有自動展示區，說明如何以愛德萬的測試解決方案，來改善從感應器到通訊等，所有機載電子設備的性能與可靠度 。
而攤位上的其他展示區，則將陳列包括系統級測試用的T2000平台；V93000智慧衡量系統的FVI16 浮動高功率 VI 供應器，可用於測試應用在汽車、工業與PMIC的先進IC；而具備最新HVI (高壓VI電源與量測)模組的 EVA100 量測系統，則將其應用延伸至包括測試用於大量消費者應用上的高功率IC;還有設計供愛德萬測試器使用的探針卡等等。