吉時利(Keithley)日前對其獲獎無數的Model 4200-SCS半導體特性分析系統進行了全面硬體、韌體和軟體升級，7.2版的 KTEI升級軟體包含了九種新的太陽能電池測試函式庫，針對系統電容-電壓(C-V)量測功能擴展的頻率範圍，支援吉時利最新的Model 4200-SCS九插槽機架。
吉時利(Keithley)日前對其獲獎無數的Model 4200-SCS半導體特性分析系統進行了全面硬體、韌體和軟體升級，7.2版的 KTEI升級軟體包含了九種新的太陽能電池測試函式庫，針對系統電容-電壓(C-V)量測功能擴展的頻率範圍，支援吉時利最新的Model 4200-SCS九插槽機架。
KTEI V7.2新增的太陽能電池測試函式庫擴充了Model 4200-SCS支援I-V、C-V和電阻測試應用的功能，在人們對替代能源的興趣大增以及政府大力支持的情況下，這些測試功能顯得越來越重要，該款軟體升級也支援新的太陽能電池測試技術DLCP，DLCP能夠提供薄膜太陽能電池上的缺陷密度資訊，該測試技術若採用之前的測試方案是很難精確實現的。
為支援DLCP測試，Model 4200-CVU的頻率範圍已經從10k～10MHz向下擴展到1K～10MHz，擴增後的頻率範圍也擴大了系統的應用領域，能夠支援平面LCD和有機半導體─如有機發光二極體的測試。為了支持7.2版的升級，吉時利還推出新款高性能三軸纜線套件，用於連接Model 4200-SCS和探針台，能夠大大簡化在直流I-V、C-V和脈衝測試之間轉換的過程，這款新的纜線套件無需使用者重新布線，也能夠消除由於布線誤差導致的測量誤差，新款的纜線套件有兩種版本現正供應中。
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