2019年快閃記憶體高峰會 (Flash Memory Summit 2019) 即將在8月6～8日，於加州聖克拉拉會議中心 (Santa Clara Convention Center) 盛大開幕。半導體測試設備領導供應商－愛德萬測試 (Advantest Corporation)除了將展示最新儲存與記憶體測試解決方案以外，更將首次發表MPT3000ARC測試系統。
愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy Davies表示，很榮幸在本屆高峰會介紹業界首款結合溫度控制功能和高生產效率的測試平台──MPT3000ARC系統，它能為固態硬碟 (SSD)進行極端溫度測試。愛德萬測試旗下的MPT3000產品系列原本就廣受SSD製造商採用，加入此新系統至MPT3000系列後，愛德萬測試可支援SSD測試從設計到生產製造，包括PCIe Gen 4在內，為下一代的裝置開闢出一條最快、風險最小的上市之路。
愛德萬測試將在606號攤位展示MPT3000系列，新成員MPT3000ARC也將亮相。這款最新的測試機，除了符合汽車溫度測試標準外，自動化設定的熱控制爐(thermal chamber) 也讓SSD製造商能快速達到目標溫度，有利於優化可靠度驗證測試 (RDT)和加快產品上市。MPT3000ARC的加入，使MPT3000系列能快速切換，在多種SSD產品上實現單一系統測試，如40-mm M.2記憶體到更大的EDSFF裝置。
此外，愛德萬測試也將透過數位圖示，展示針對DRAM和快閃記憶體測試的T5800系列，該平台涵蓋裸晶針測(wafer sorting)到最終系統測試(final system test)的所有需求，橫跨工程到生產。
除了產品展示以外，愛德萬測試應用工程師Justin Treon也將在8月7日 (三) 下午3:20至4:24，發表技術論文「Challenges of Testing PCIe Gen4 SSDs (and Beyond)」。