安捷倫(Agilent)宣布與海利士(Hynix)合作生產一款為雙倍資料速率(DDR)和繪圖雙倍資料速率(GDDR)SDRAM驗證而最佳化的高頻寬、高效能長線零插力(Zero Insertion Force, ZIF)探針頭。該長線ZIF探針頭可讓工程師在探量距離較遠的訊號時，能準確地量測高速訊號。這些探針頭可搭配安捷倫得獎的InfiniiMax和ZIF探量系統使用，提供較佳可用性和較低焊接成本。
安捷倫(Agilent)宣布與海利士(Hynix)合作生產一款為雙倍資料速率(DDR)和繪圖雙倍資料速率(GDDR)SDRAM驗證而最佳化的高頻寬、高效能長線零插力(Zero Insertion Force, ZIF)探針頭。該長線ZIF探針頭可讓工程師在探量距離較遠的訊號時，能準確地量測高速訊號。這些探針頭可搭配安捷倫得獎的InfiniiMax和ZIF探量系統使用，提供較佳可用性和較低焊接成本。
該探量選項可解決DDR設計的一個基本挑戰，其可讓工程師探量DRAM晶片上難以觸及的位置，同時保持訊號完整性。隨著DDR和GDDR SDRAM元件的速度愈來愈快，以及設計邊限不斷地縮小，探量系統的效能顯得格外重要。長線ZIF探針頭，正足以克服該項探量挑戰。DDR和GDDR驗證的另一項挑戰是，依據JEDEC規格所需測試的訊號數，長線ZIF探針頭的設計，可讓工程師在SDRAM元件上所要探量的多個訊號間輕易地切換。該產品使DDR記憶體設計的相容性測試需求更臻完整。
海利士繪圖記憶體應用團隊副總裁Kun-Sang Yoon表示，安捷倫原來的ZIF探針頭配件已擁有不錯效能，但其希望探針頭可再長一些，且更富彈性，以方便存取相距遙遠的訊號。安捷倫採納其意見，很快便推出能滿足其需求的探量解決方案。長線ZIF探針頭配件維持優異訊號完整性效能，可讓海利士準確地量測高速訊號。
台灣安捷倫總經理張志銘指出，其相當重視客戶需求，與海利等業界領導廠商及各個標準制定組織，一直維持密切合作的關係。藉此安捷倫得以迅速因應各項變化，從而提升量測效率與準確度。安捷倫有適合的工具，從BGA探量技術到相容性測試軟體，可協助工程師加快DDR和GDDR記憶體設計驗證。
海利士網址：www.hynix.com
安捷倫網址：www.agilent.com