安捷倫延伸雜訊指數量測選項頻率至50GHz

2012-12-26
安捷倫(Agilent)宣布旗下PNA-X網路分析儀推出新的訊號源修正雜訊指數量測選項,除了將頻率延伸至43.5GHz和50GHz之外,並持續提供雜訊指數量測準確度。該技術內建於PNA-X中,可為負責開發和測試低雜訊電晶體、放大器、頻率轉換器的研發和製造工程師,提供一套完整的單次連接、多項量測解決方案。
安捷倫(Agilent)宣布旗下PNA-X網路分析儀推出新的訊號源修正雜訊指數量測選項,除了將頻率延伸至43.5GHz和50GHz之外,並持續提供雜訊指數量測準確度。該技術內建於PNA-X中,可為負責開發和測試低雜訊電晶體、放大器、頻率轉換器的研發和製造工程師,提供一套完整的單次連接、多項量測解決方案。

台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示,安捷倫基於網路分析儀的高效能雜訊指數量測技術提供當今最高的雜訊量測準確度。該選項將頻率延伸至43.5到50GHz,可廣泛用於更多新應用。

安捷倫新推出的50GHz雜訊硬體選項內含低雜訊接收器與阻抗調諧器,可簡化量測設定並提供完整的向量雜訊修正量測功能。不同於其他雜訊指數解決方案,安捷倫PNA-X網路分析儀結合S參數向量錯誤修正技術和阻抗調諧器,可全面移除不完全的系統訊號源匹配效應,並且修正待測元件輸出匹配和內部接收器雜訊指數之間的交互作用。

安捷倫網址:www.agilent.com

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