愛德萬宣布推出專為V93000平台設計的Link Scale系列數位通道卡，能針對先進半導體進行基於軟體的功能測試與USB/PCI Express(PCIe) SCAN測試。該系列全新通道卡能協助客戶因應這些介面在完整的協定模式下運作的測試挑戰，並為V93000平台提供近似系統級測試的能力。
現今許多複雜的系統單晶片(SoC) 元件、微處理器、圖形處理器與AI加速器都整合高速數位介面，譬如USB或PCIe。最新Link Scale卡透過這些介面，快速傳輸功能測試與掃描測試內容，可同時提升測試涵蓋率及加快測試速度。藉由採用與其他V93000板卡相同的外型規格，Link Scale卡可完全整合在測試內。
最新Link Scale卡與受測元件透過標準高速串列介面溝通，因此使用者能在元件處於常態運作模式下，採用與最終應用相似的韌體與驅動程式，對其進行測試。這樣的方式所帶來的高效率能有效控制測試時間，額外的功能涵蓋率，有助於達成在最新製程節點製造之複雜元件所要求的標準。Link Scale卡亦支援偵錯工具，改善晶片首次上線流程並加快生產速度。
此外，晶片前期功能測試藉由可攜式測試與刺激標準(Portable Test and Stimulus Standard, PSS)現在可重複使用，主要的電子設計自動化(EDA)工具都可支援此項標準，不但可大幅提升測試品質並縮短上市時間。新通道卡亦為主軟體，提供可客製化的運行環境，讓V93000系統可以執行完整的軟體架構以達成真實應用的測試所需。此設計促進測試資料在不同環境中的交換，譬如晶圓分類、最終測試與系統級測試。