國家儀器(NI)近日推出NI PXIe-4135 電源量測單元(SMU)提供10fA的量測靈敏度與高達200V的電壓輸出。透過NI PXI SMU的靈活彈性、高通道數密度、絕佳的測試輸出率，工程師可使用NI PXIe-4135 SMU量測低電流訊號，並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與IC的特性測試等多種應用。
國家儀器(NI)近日推出NI PXIe-4135 電源量測單元(SMU)提供10fA的量測靈敏度與高達200V的電壓輸出。透過NI PXI SMU的靈活彈性、高通道數密度、絕佳的測試輸出率，工程師可使用NI PXIe-4135 SMU量測低電流訊號，並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與IC的特性測試等多種應用。
IMEC研究員Bart De Wachter博士如此表示，該公司的行內參數測試必須擷取數百萬個資料點，過程中常會產生數微微安培的洩漏電流。新款NI PXI SMU可準確量測這些低電流訊號，並同時享有PXI平台的快速除錯與LabVIEW提供的系統設計彈性。
工程師可透過模組化NI PXI SMU打造體積精巧、平行的多通道數系統，並享有多達68個SMU通道的單一PXI機箱，能夠針對數百個通道執行晶圓穩定性測試與平行測試。此外，使用者可善用高速通訊匯流排、精確的硬體序列與數位控制迴路技術，藉此提高測試輸出率並客制微調任何待測裝置的SMU響應。使用者也可以運用軟體控制SMU響應，不僅可縮短SMU趨穩作業漫長的等待時間，還能藉由軟體的彈性減少過衝與震盪，即使是高電容負載也一樣。
NI網址:www.ni.com