安立知(Anritu)為其無線通訊綜合測試平台MT8000A推出「使用機器學習的EIS-CDF最佳化」MX800010A-026全新軟體選項，透過機器學習(Machine Learning)實現最佳化的5G毫米波(mmWave)3D EIS掃描(EIS-CDF)測試時間。
隨著北美和日本等發達經濟體正加快推出快速連接5G mmWave(FR2)服務的步伐，mmWave使用者設備(UE)的研發和一致性測試預計將在未來成為更活絡的市場。3GPP標準規定在OTA(Over-the-Air)測試環境中以3D測試mmWave UE天線特性。然而，3D測試由於數量或測量點較多，需要花費較長的測試時間。使用機器學習途徑得以大幅縮短這一漫長的測試時間，並可望最佳化mmWave UE的測試效率進而變得更普及。
MX800010A-026軟體選項支援使用安立知的縮距天線量測場(Compact Antenna Test Range，CATR)電波暗室MA8172A進行3D EIS掃描測試，其方式是透過自動化學習UE天線特性，從而提高測試效率。使用相同的UE重複多次3D EIS掃描，有助於最佳化測試效率。機器學習透過後續的重複學習，讓兩個mmWave UE模型的測試時間最佳化了大約35%至60%。
多合一的MT8000A平台支援射頻(RF)、協議和應用操作測試，以及波束驗證和波束特性評估。MT8000A除了具有開發5G晶片組和UE所要求的非獨立(NSA)和獨立(SA)模式基地台操作之模擬功能，還支援所有的5G FR1(600MHz、2.5GHz、3.5GHz、4.5GHz和6GHz免授權)和FR2(24GHz、28GHz、39GHz和43GHz)頻段。CATR電波暗室MA8172A使用符合3GPP標準的CATR方法，可在狹小空間中實施5G NR OTA測試。它可用於5G NR晶片組和UE的mmWave開發和一致性測試。