安捷倫(Agilent)於加州聖荷西市舉行的第一屆USB 3.0 Developers Conference(中，展示新USB 3.0發送器和USB 3.0接收器的相容性驗證測試(Compliance Test)解決方案，當中包含第一套USB 3.0訊號品質測試夾具。此一完整的解決方案可協助工程師快速又準確地測試USB 3.0設計。
安捷倫(Agilent)於加州聖荷西市舉行的第一屆USB 3.0 Developers Conference(中，展示新USB 3.0發送器和USB 3.0接收器的相容性驗證測試(Compliance Test)解決方案，當中包含第一套USB 3.0訊號品質測試夾具。此一完整的解決方案可協助工程師快速又準確地測試USB 3.0設計。
安捷倫的解決方案將採行USB-IF於2008年11月14日發表的USB 3.0最終規格。USB 3.0又稱為SuperSpeed USB，可提供比USB 2.0快十倍的資料傳輸率，且耗電量更低。SuperSpeed USB對傳輸速率超過25Gbit/s的資料儲存裝置來說極為必要，業界專家預估，到2009年底，製造商就會採用SuperSpeed USB，且2010年就會有眾多的消費產品支援USB 3.0。然而，在真正晶片設計出來，可實際進行測試前，沒有任何USB 3.0的解決方案可開始進行正式認證。
安捷倫示波器事業部總經理Scott Sampl表示，其正與SuperSpeed USB技術的開發廠商密切合作，以確保安捷倫解決方案完全符合USB 3.0相容性驗證測試工程師需求。安捷倫也積極與早期解決方案夥伴共同合作，進一步改良安捷倫SuperSpeed USB 3.0解決方案。
安捷倫網址：www.agilent.com