國家儀器(NI)日前發表2016年自動化測試展望。這份測試與量測年度報告提供完整概觀，證實了隨著連線裝置普及的今日，自動化測試環境也將進入下一個世代；包括毫米波(mmWave)通訊測試的準備作業，以及如何有效運用製造測試資料來提升商務表現等重大自動化測試趨勢剖析。
國家儀器(NI)日前發表2016年自動化測試展望。這份測試與量測年度報告提供完整概觀，證實了隨著連線裝置普及的今日，自動化測試環境也將進入下一個世代；包括毫米波(mmWave)通訊測試的準備作業，以及如何有效運用製造測試資料來提升商務表現等重大自動化測試趨勢剖析。
NI自動化測試行銷總監Luke Schreier表示，NI致力於推動優異的自動化測試系統，與客戶和供應商密切合作，藉此掌握製造與測試部門所面臨的關鍵議題，不論您的挑戰是測試超大量的物聯網裝置，或是管理已使用20年的測試系統，該公司的目標就是激起貴組織內的對話火花，進而幫助廠商降低測試成本。
2016 年自動化測試展望報告第一個主題為資料分析，意指半導體公司率先採用Real-Time資料分析，藉此降低製造測試成本；其次為生命週期管理，該公司認為只要是長期專案，就會面臨產品汰換、OS不斷更新、相容性等狀況，這些都是值得重新探討的舊問題；其三為架構考量，導致測試管理軟體的崛起，隨著新的程式設計語言大量出現，現成的測試執行檔可說是有效的解決方案；最後是商務策略，測試工程師採用模組化解決方案，透過符合經濟效益的方式檢驗高頻率元件。
NI網址:www.ni.com