NI PXI向量網路分析器減少半導體測試成本

2012-11-27
國家儀器(NI)發表向量網路分析器--NI PXIe-5632 VNA,這款經過最佳化的產品可協助工程師滿足日趨複雜的射頻(RF)測試需求,而且相較於傳統的機架堆疊式解決方案,必要的成本、時間、體積都有所減少。全新的PXIe VNA採用創新的雙源架構,頻率範圍則是300kHz~8.5GHz,可獨立調整來源且具備來源存取迴路,適用於各式各樣的量測應用。
國家儀器(NI)發表向量網路分析器--NI PXIe-5632 VNA,這款經過最佳化的產品可協助工程師滿足日趨複雜的射頻(RF)測試需求,而且相較於傳統的機架堆疊式解決方案,必要的成本、時間、體積都有所減少。全新的PXIe VNA採用創新的雙源架構,頻率範圍則是300kHz~8.5GHz,可獨立調整來源且具備來源存取迴路,適用於各式各樣的量測應用。

國家儀器射頻研發副總裁Jin Bains說明,國家儀器持續投資射頻與微波儀器,將PXI的使用範圍拓展至高階應用。NI PXIe-5632 VNA豐富的功能組合有助於大幅降低網路量測成本,尤其是須要精確量測、高速量測與小型體積的大量自動化測試應用。

雙埠的三槽式PXI Express VNA可以0.01dB為單位設定-30dBm~+15dBm的功率範圍,進而量測運作裝置的壓縮與S參數;雙源架構搭配來源存取迴路,可用於脈衝式S參數量測與更廣的來源功率範圍;頻率偏移功能採用可獨立調整的來源,以便量測頻率轉移裝置與最新S參數。

國家儀器網址:www.ni.com

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