半導體測試領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation)發表最新GPWGD高解析度模組，具備高精度的數字轉換器，能測試嵌於電源管理IC (PMIC) 內的高解析度音訊數位類比轉換器 (DAC)，以及獨立高解析度音訊元件。此模組創新的測試技術，能涵蓋超高動態範圍，從元件特性分析到量產實現前所未有的類比測試精準度，在測試載板上省去複雜設計，也不需要額外測試或測量儀器。
高解析度音訊與CD相比，不僅動態範圍更廣，音源品質也更好。支援高解析度音訊的電子裝置愈來愈普及──包括智慧型手機，穿戴式電子產品與家庭劇院、自動導航系統、遊戲機、4K與8K電視以及其他新一代產品等等──嵌有數位類比轉換器(DAC)的電源管理IC(PMIC)數量增加，這將會需要具備24或32位元解析度的高動態範圍測試。
T2000平台加上GPWGD高解析度模組，只要一套系統設置，就能完成PMIC和高解析度音訊數位類比轉換器(DAC)的測試，對客戶而言，不僅資本投資能獲得最大利用，也能縮短測試週期。
向上相容的特性與具高解析度功能的數字轉換器，實現領先業界的測量能力，訊噪比 (SNR) 和動態範圍 (DR) 皆達30dB，超過其他測試機台的類比效能。此外，具備優異的同測能力，相較市面上其他系統相比量多了1倍同測數，從而提高產能並降低測試成本。