愛德萬測試(Advantest)的T5831系統已開始向客戶出貨。此套系統主要應用於新一代行動裝置應用IC與Managed NAND裝置，如嵌入式多媒體記憶卡(eMMC)，且具備多項功能，可支援並行同測多晶片封裝(MCP)中的儲存行快閃記憶體(NAND Flash)和行動動態隨機存取記憶體(DRAM)記憶體。
愛德萬測試(Advantest)的T5831系統已開始向客戶出貨。此套系統主要應用於新一代行動裝置應用IC與Managed NAND裝置，如嵌入式多媒體記憶卡(eMMC)，且具備多項功能，可支援並行同測多晶片封裝(MCP)中的儲存行快閃記憶體(NAND Flash)和行動動態隨機存取記憶體(DRAM)記憶體。
愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁山田弘益表示，這套全新測試解決方案採用模組化設計提供現今客戶所需效能，且同時具備可擴充性，可讓客戶因應未來瞬息萬變的測試需求。T5831不但以全方位自動測試設備效能，創造低測試成本，同時也透過提供軟體相容性，讓愛德萬測試全球安裝數量高達九千多套測試系統的客戶群將風險降至最低。
T5831是專為高速平行同測所設計，提供客戶低成本測試功能，延伸投資報酬，堪稱業界最經濟測試解決方案。其附隨的工程解決方案T5831 ES，最適用於測試程式開發與元件特性分析，可讓客戶加快整體上市時間。
愛德萬測試網址：www.advantest.com