愛德萬將於SEMICON China發表5G IC測試解決方案

在N4廳的#4431攤位內 ，愛德萬測試將透過產品現場示範和展出，提供最先進的測試解決方案。包括V93000可擴充式平台，採用最新IC測試解決方案和服務來支援人工智慧技術；FVI16 浮動電源 VI source，則可延伸V93000平台的功能，以涵蓋更廣的測試範圍，包括汽車、工業和電源管理IC (PMIC) 應用的先進IC等。供實驗室環境使用的B6700ES燒入式記憶體測試系統，搭配生產測試系統使用之burn-in boards；高度彈性工程測試機T5830ES， 其Tester-per-Site™的設計，可針對各種攜帶式電子產品所使用的快閃記憶體進行測試。EVA100量測系統具有最新HVI (高壓VI源和量測) 模組，可擴充平台的服務範圍，涵蓋大量消費性電子產品用的高功率IC。另外，供系統級測試用的T2000 平台、以及MMXHE和 RECT550EX模組，可讓T2000系統更有效地測試油電混合、電動車動力傳動系統之中使用的設備。愛德萬測試同時展示並讓參加者可直接觀察T2000測試平台的應用方式，藉此提高更多類型的車用電子產品，諸如感應、控制、處理、電力相關之設備和模組的性能與可靠性。

此外，還以數位化的展示，用於量測IC 封膠厚度和IC 封裝印刷電路板佈線品質之TS9000 系列太赫茲分析系統；量測下一代光罩關鍵尺寸(CD)的E3650掃描電子顯微鏡(SEM)；檢查光罩缺陷用的E5610 SEM；1X奈米技術節點用的束微影術系統F7000；顯示器驅動IC(DDI)用的T6391測試系統；測試介面則有300mm NAND探針測試卡， 和用於V93000 IoT ICs 之測試解決方案；創新的CX1000P CloudTesting™ 機台；滿足成本效益、隨選雲端式的測試解決方案，以及愛德萬測試一系列的售後服務，協助提高使用AI技術的整體設備效率（OEE）。