愛德萬測試推出新款T5851 STM16G內存測試系統，專用於評估包括UFS3.0通用閃存和PCIe Gen 4 NVMe 固態硬碟（SSD）等高速協議NAND閃存，預期這兩種裝置在LTE 5G通信市場的需求量將會非常大。
愛德萬測試推出新款T5851 STM16G內存測試系統，專用於評估包括UFS3.0通用閃存和PCIe Gen 4 NVMe 固態硬碟（SSD）等高速協議NAND閃存，預期這兩種裝置在LTE 5G通信市場的需求量將會非常大。
行動和汽車通訊市場正在蓬勃發展。據估計，智慧型手機中所有的NAND內存很快都將使用高速串行協議介面控制器，如PCIe和UFS，其中大部分將需要系統級測試（SLT）。此外，UFS存儲器的出貨量預計將在未來三年內增至近三倍，並超越目前的市場領導者嵌入式多媒體卡（eMMC）。市場研究公司IHS Markit指出，到2021年 eMMC，UFS和NAND智慧型手機出貨量將超過8億台。
新型T5851 STM16G系統的多協議架構使其適合使用在工程和大量生產的環境中，測試所有帶球柵陣列封裝（BGA）或平面網格陣列封裝（LGA）的固態硬碟。使用單一共用平台可降低部署風險，同時系統的模塊化可升級性則可提高使用者的投資回報。
T5851 STM16G的配置和性能可針對任何一代設備進行優化。愛德萬測試的FutureSuite軟體確保新測試機台可以輕鬆與T5800產品系列的所有其他產品整合。新的內存測試系統有許多額外的好處，它可以與愛德萬測試的M6243或M6244自動化分類機結合使用，建構一個開機即用的整套測試單元；它具有液體冷卻系統進行可靠的熱管理；並提供絕佳的可靠性。