安捷倫推出DDR3測試套件

2009-03-20
安捷倫(Agilent)發表DDR3協定除錯與驗證測試套件,可協助數位設計工程師開發電腦與嵌入式記憶體應用,該測試平台提供了業界較快速的全通道2.0GT/s 16962A邏輯分析模組、DDR3 BGA和雙列式直插式記憶體模組(DIMM)適用完整探量產品、及首款DDR3相容性與效能測試軟體環境。對必須在記憶體子系統上整合記憶體控制器和DDR記憶體元件研發工程師來說,該測試套件適合用來執行相互連測試,這項對大部分設計師來說都是一大挑戰,因為記憶體控制器設計可自行開發,或向其他廠商購買智慧財產(IP)。  
安捷倫(Agilent)發表DDR3協定除錯與驗證測試套件,可協助數位設計工程師開發電腦與嵌入式記憶體應用,該測試平台提供了業界較快速的全通道2.0GT/s 16962A邏輯分析模組、DDR3 BGA和雙列式直插式記憶體模組(DIMM)適用完整探量產品、及首款DDR3相容性與效能測試軟體環境。對必須在記憶體子系統上整合記憶體控制器和DDR記憶體元件研發工程師來說,該測試套件適合用來執行相互連測試,這項對大部分設計師來說都是一大挑戰,因為記憶體控制器設計可自行開發,或向其他廠商購買智慧財產(IP)。  

隨著現今電腦速度與複雜性不斷提昇,工程師在制定規格時,就須將量測需求一併納入考量,確保此技術將來可順利進行測試,量測對於問題診斷,及確認問題是否已正確修正來說十分重要,安捷倫積極參與各標準組織如JEDEC,以確保工程師能夠設計有效的測試方式,並保證安捷倫的產品可執行規格相容性測試。  

安捷倫網址:www.agilent.com

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