羅德史瓦茲(R&S)將於2008年10月27日至30日在台北國際會議中心的ISAP 2008國際天線與電波傳播研討會暨展示會上，展示其全面領先的射頻和微波測試解決方案。其認證型EMI測試接收機R&S ESCI、ESU，搭配不同附件，即可完成積體電路電磁發射測試。R&S ESCI和ESU同時具接收機和頻譜儀功能，完全符合標準CISPR16-1-1。展出的R&S ESU同時擁有綜合測試功能，以及一整套各種型式的檢波器，包括CISPR-RMS檢波器、射頻掃描型、中頻分析與彈性化的測試報告格式。最高頻率範圍分別可從20H～8GHz、26.5GHz與40GHz。
羅德史瓦茲(R&S)將於2008年10月27日至30日在台北國際會議中心的ISAP 2008國際天線與電波傳播研討會暨展示會上，展示其全面領先的射頻和微波測試解決方案。其認證型EMI測試接收機R&S ESCI、ESU，搭配不同附件，即可完成積體電路電磁發射測試。R&S ESCI和ESU同時具接收機和頻譜儀功能，完全符合標準CISPR16-1-1。展出的R&S ESU同時擁有綜合測試功能，以及一整套各種型式的檢波器，包括CISPR-RMS檢波器、射頻掃描型、中頻分析與彈性化的測試報告格式。最高頻率範圍分別可從20H～8GHz、26.5GHz與40GHz。
向量訊號產生器R&S SMU200A可支援現代通訊系統在研究、開發和生產的所有要求，除整合兩個獨立訊號產生器到一台設備中，還擁有強大衰落模擬功能，可以模擬單通道四十徑或者雙通道二十徑的衰落環境，每個路徑均可進行相應參數設置，如損耗、延時、移動速度、多普勒頻移等。頻譜分析儀R&S FSU67擁有從20～67GHz的連續頻率範圍，可一次完成諧波測量而無需更改設置，有利於微波元件的研發和生產應用，例如振盪器、52GHz或58GHz頻率範圍的短程微波連接元件、60GHz波段的本地無線傳輸系統，以及航太國防領域。
針對晶片的S參數測試，羅德史瓦茲也提供優異解決方案，R&S ZVA/B系列向量網路分析儀在測試速度、動態範圍、靈活性和測試精度上都即為出眾。其雙源四埠結構可實現多埠測試、平衡測試、混合參數測試，以及獨特真差分測試。多種校準技術(TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM)大幅提高測試靈活性；放大器與晶圓電路測試也需用到脈衝訊號以避免過熱情況發生。藉由使用R&S ZVA-K7軟體選項，羅德史瓦茲已將脈衝量測整合進高階網路分析儀R&S ZVA當中，提供一套緊緻且划算的測試方案。12.5奈秒的時域解析度可即時地獲得絕對位準、S參數與其他相關量測數據。
羅德史瓦茲網址：www.rohde-schwarz.com