安捷倫(Agilent)宣布已將一款完全整合的1.1 THz網路分析量測解決方案交貨給日本山口大學(Yamaguchi University)。該解決方案對山口大學在從事兆赫(THz)頻率的超常材料(Metamaterials)研究上，提供相當助益。
安捷倫(Agilent)宣布已將一款完全整合的1.1 THz網路分析量測解決方案交貨給日本山口大學(Yamaguchi University)。該解決方案對山口大學在從事兆赫(THz)頻率的超常材料(Metamaterials)研究上，提供相當助益。
安捷倫的解決方案採用Virginia Diodes所生產的750GHz～1.1THz的頻率延伸模組WR-01，以及安捷倫的50 GHz PNA-X向量網路分析儀。這些儀器以優於50dB的動態範圍，提供完全校驗的向量網路分析量測。使用者可以利用PNA-X的校驗技術，來執行穩定可靠的THz量測。該儀器的動態範圍，可讓使用者較易達到高靈敏度的量測。由於頻率延伸模組提供750GHz～1.1THz的頻率操作範圍，因此使用者也較易擷取較高解析度的影像。
台灣安捷倫科技董事長暨電子量測事業群總經理張志銘表示，和Virginia Diodes的密切合作，使其能夠將WR-01延伸裝置整合到PNA-X向量網路分析儀，進一步延伸儀器的功能，及執行THz量測。
安捷倫網址：www.agilent.com