USB 3.0 相容性測試 安捷倫

安捷倫舉行USB 3.0測試研討會

2011-01-20
第三代通用序列匯流排(USB 3.0)的相容性測試,抖動裕度和USB 2.0相比時,相對地嚴格許多。此外,設計時還要考慮發射端去加強,展頻時脈,接收端均衡設置,接收端均衡器和抖動裕度的測試,以及新的纜線和連接器等的因素。  
第三代通用序列匯流排(USB 3.0)的相容性測試,抖動裕度和USB 2.0相比時,相對地嚴格許多。此外,設計時還要考慮發射端去加強,展頻時脈,接收端均衡設置,接收端均衡器和抖動裕度的測試,以及新的纜線和連接器等的因素。  

安捷倫(Agilent)網路研討會將會介紹 「速度高達5Gbit/s之USB 3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰」、「USB3.0的官方認證測試中,包含發射端及接收端測試是如何完成的」及「瞭解相容性測試常見的失敗項目,以及認證過程中導致該失敗的常見問題」。  

歡迎上網報名,免費參加研討會。與會學員在研討會後遞交回函表的現場參加者,即可參加16GB iPad抽獎。  

安捷倫網址:www.agilent.com

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