愛德萬測試宣布，旗下T5800產品系列新推出全新記憶體測試機。T5835系統具備5.4Gbps作業速度及大量同測能力，針對現階段與次世代DRAM核心及高速NAND記憶體，提供多元廣泛的測試解決方案。
綜觀市場趨勢，隨著揮發性與非揮發性記憶體IC的介面速度持續加快，原先中等速度的DRAM核心最終測試速度也持續增加，並在可靠度、測試覆蓋率和成本效益之間達到最佳平衡。現今高速元件在進行NAND記憶體測試時的介面速度可能超過2Gbps，預料即將問世的非揮發性記憶體測試速度甚至將超過4Gbps。對IC製造商而言，理想的測試解決方案除了要能跟上日益提高的性能要求，還要維持或改善整體測試成本。
最新T5835系統對任何運作速度達5.4Gbps的記憶體IC都具備完整測試功能，包含各新世代記憶體，如NAND快閃記憶體、雙倍資料率(DDR)與低功率雙倍資料率(LPDDR)DRAM晶片都能滿足測試需求。此外，T5835系統內建專門的硬體功能，使其能實現高產能要求、降低測試成本，針對最終封裝級測試更能同時處理768個元件。
T5835系統功能包括DRAM已知良品(KGD)晶圓級測試，針對先進行動記憶體強化的可編程設計電源供應(PPS)，以及即時DQS vs. DQ功能藉以提升良率。T5835的設計是基於模組強化的T5800系列平台，能使晶圓測試與最終測試的可擴充性、彈性與效能達到最佳化。這套系統可以設置為研發環境使用的工程機，也能配備小、中或大型測試頭，投入線上生產測試。
T5835系統設置都承襲愛德萬測試現有的記憶體測試系統，並搭載Future Suite作業系統，提供客戶具延續性的測試程式相容性。這些特點讓使用者得以從前代T5800系列無縫接軌，同時又能兼顧生產效率。
愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁鈴木雅之表示，具備高性能、多元功能的最新T5835系統，不僅是T5800系列最高等級新作，也是目前業界較佳的記憶體測試機。