安立知(Anritsu)為其領先業界的4G LTE-Advanced訊令測試儀MD8430A，推出整合通道衰減模擬功能。新增的數位基頻衰減選項使MD8430A成為一款全功能的衰減模擬器，並支援業界標準3GPP定義的衰弱訊號規格。
安立知(Anritsu)為其領先業界的4G LTE-Advanced訊令測試儀MD8430A，推出整合通道衰減模擬功能。新增的數位基頻衰減選項使MD8430A成為一款全功能的衰減模擬器，並支援業界標準3GPP定義的衰弱訊號規格。
新推出的通道衰減選項能夠與MD8430A有效結合，毋須因應實際的射頻(RF)條件投資額外硬體來執行訊令測試。此為首款內建衰減功能的LTE-Advanced訊令測試解決方案，可支援4×4多輸入多輸出(MIMO)下行鏈路配置。
LTE-Advanced的一項關鍵特色是MIMO天線系統，即利用多重路徑來提升裝置性能。為充份地測試這一類MIMO裝置，多徑衰減效應必須以可重複的方式準確地施加在每一根天線上。
MD8430A訊令測試儀藉由內部數位基頻處理，在測試執行期間應用多徑效應，而RTD軟體則為該測試儀提供建立與執行衰減模擬測試的整合環境。同時可支援包括載波聚合(CA)與MIMO等LTE-Advanced功能，使得MD8430A成為協助晶片設計人員打造下一代高性能行動裝置的理想解決方案。除透過RF連線測試裝置以外，內建衰減選項的MD8430A亦可支援慢速時脈數位介面，在開始生產ASIC前，可先在模擬的環境中驗證設計。
安立知網址：www.anritsu.com